美国赛默飞透射电子显微镜Talos F200S G2

发布者:周朋发布时间:2024-04-10浏览次数:147

一、技术参数

1.分辨率

1.1线分辨率:≤ 0.10 nm

1.2信息分辨率:≤ 0.12 nm

1.3 STEM分辨率:≤ 0.16 nm

2. 加速电压:200 kV

3. TEM模式下放大倍率:25- 1,050,000× STEM模式放大倍率:310- 320,000,000×

4. 真空系统    

4.1 电子枪真空度≤1×10-6 Pa

4.2 样品室真空度≤2×10-5 Pa

4.3 标配液氮冷阱。

5. 能谱仪

5.1元素分析范围:C(6)- Cm(96)

5.2能量分辨率:≤136 eV(Mn-Kα),在输出计数率10 kcps内保持不变;≤140 eV (Mn-Kα),在输出计数率50 kcps内保持不变;

5.3线或面扫描分析:快速EDSMapping像素驻留时间:10 μs

5.4面分布:最大元素面分布分辨率4096×4096

二、主要特点

  1. 采用16分割的STEM探头,多分割探头的数据可多种方式自由组合,探头性能进一步增强:具有单电子探测的灵敏度,同时可耐受最强1.25nA@300kV束流的辐照

  2. 采用大极靴,能谱探头可深入极靴进行探测分析,提升能谱仪的信号采集能力

  3. TEM一体化超高速高动态数字观察相机。

  4. TEM一体化超快速高分辨CMOS成像相机,能在STEM下,同时采集衍射数据,衍射花样可以直接拍摄。

  5. 远程控制功能,人机分离操作模式,透射电镜及操控台位于不同的房间,日常操作通过远程控制实现,可以无需荧光屏,可以无需暗室。

  6. 全数字化操作系统, 配置全自动光路和镜筒合轴软件系统,自动转带轴功能,简化使用操作。

三、主要用途

透射电镜属多功能测试仪器,具备拍摄样品普通形貌、高分辨图像、能谱分析和选区衍射分析等功能。广泛应用在物理、化学以及材料科学中,作为确定物质结构以及成分的一个重要方法,可对金属、陶瓷、半导体、塑料等材料进行微区结构观测,配合能谱仪对样品元素进行分布分析。



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