一、技术参数
1. 3kW密封X射线管、CBO光学器件
2. 2θ角转动范围-8°～160°，可控最小步进0.0001°
3. HyPix-400二维探测器
二、主要特点
1. 精度高，测角仪角度重现性达0.0001度
2. 元器件实现模块化设计，互换方便
3. 采用二维探测器，得到二维衍射信息
4. 在消荧光模式时，可高效去除Cu靶测试含铁、钴、镍元素产生的荧光干扰
5. 配备χ-φ多功能样品台（尤拉环）、微区分析系统、带透射样品架的六位自动进样器（每个样品位均可自旋转，消除样品择优取向）
6. 配备COD数据库，全谱拟合无标定量分析及结构精修软件，高分辨薄膜反射率分析软件，摇摆曲线和倒易空间Mapping分析软件，点阵参数精密化，晶粒大小与晶胞畸变&结晶度分析软件
三、主要用途：
1．物相定性（由物相检索软件通过对原始数据直接检索的方式实现）、有标定量分析功能。
2．点阵参数精密化，晶粒大小与晶胞畸变&结晶度分析
3．全谱拟合无标定量分析及结构精修。
4. 二维探测器得到的二维衍射信息（极图），可用于分析织构和应力。
5. 消除样品择优取向可用于药物物相分析。
6. 半导体膜等表面生长纳米薄膜材料的研究，高分辨薄膜反射率分析（可分析100nm左右的样品的膜厚），摇摆曲线。
7. 块体材料微区分析。
8. 倒易空间分析。
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